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貝士德比表面積孔徑分析儀是一款高性能的氣體吸附分析設備，支持1、2或4個樣品分析站和2或4個脫氣站配置，測試精度高、重復性好，誤差小于±1%。可測量比表面積高達0.0005㎡/g，孔徑范圍覆蓋0.35-500nm。采用分析與脫氣系統分離設計，顯著提升測試效率。廣泛適用于材料研發、催化劑、吸附劑等領域的微觀結構分析。

M7140PhysiMaster 7140 (PM7140)系列全自動物理吸附儀是一款多站快速比表面及孔分布分析儀器，儀器配有可以獨立使用的8站式脫氣站，觸摸屏程序升溫控制，儀器提供4站式分析站，具有性價比高、空間占用小、升級簡易、分析過程全自動、各種意外情況處理安全有效等特點，測試軟件支持用戶自定義壓力點文件（吸、脫附相對壓力點個數可多至1000個），并提供多種數據處理模型。

DX400是精微高博公司最新推出的高效型比表面積測定儀，基于動態色譜分析法原理實現BET比表面積快速測定，相比傳統產品，實現準確和快速兩大超越 準：可準確測試超小比表面積0.1 m2/g的標準樣品，精確到0.01m2/g。 快：測試速度是傳統產品的3倍，可實現1小時28個標準樣品的超高測試效率。 非常適合鈷酸鋰、三元材料、磷酸鐵鋰、石墨、硅碳等電池正負極材料及其他小比表面積樣品的測試。

JW-DX 是精微高博自主研發的動態比表面積測定儀，采用專、利吸附峰分析技術，特別適用于三元材料、石墨等小比表面積樣品的精準測定。4個獨立測試通道，無干擾、無差異，確保數據高重復性與平行性。支持選配外置真空脫氣裝置，有效提升測試效率。全自動操作系統，界面直觀，測試結果實時呈現，數據可脫機分析，適配高通量、快節奏實驗室應用。

BSD-660S 是一款高精度、全自動的比表面積及孔徑分析設備，支持0.0005㎡/g以上比表面積及0.35-500nm孔徑測試范圍。配備多點 BET 測試模式和極速分析模式，最快15分鐘完成12個樣品分析。軟件智能控制升溫與脫氣，誤差低至0.5%RSD，適用于材料研發、催化劑、納米材料等微觀結構分析。

BSD-PS 系列比表面積及孔徑分析儀是一款高性能的氣體吸附分析設備，支持1、2或4個樣品分析站和2或4個脫氣站配置，測試精度高、重復性好，誤差小于±1%。可測量比表面積高達0.0005㎡/g，孔徑范圍覆蓋0.35-500nm。采用分析與脫氣系統分離設計，顯著提升測試效率。廣泛適用于材料研發、催化劑、吸附劑等領域的微觀結構分析。